硬體設(shè)備
半自動(dòng) LED wafer/chip 點(diǎn)測(cè)設(shè)備
漏電流測(cè)試模組
電源量測(cè)單元
光學(xué)測(cè)試模組
ESD 測(cè)試模組 (選配)
Chroma Model 58173 LED 全光通量自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一組全新獨(dú)特的量測(cè) LED 全光 通量之自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。在LED的裸晶與晶粒測(cè) 試生產(chǎn)線中,常見(jiàn)使用部份光通量來(lái)取代全光通 量之量測(cè)方式 (見(jiàn)圖1)。然而,傳統(tǒng)的方式存在 一些缺點(diǎn),例如:準(zhǔn)確度較低、訊噪比較低、測(cè) 試時(shí)間較長(zhǎng)等,以致于導(dǎo)入LED 的裸晶與晶粒生 產(chǎn)線時(shí)會(huì)發(fā)生問(wèn)題。
致茂研發(fā)出一種全新、高速且高精確度之 LED 全光通量之量測(cè)方式(見(jiàn)圖2)。 這種創(chuàng)新的量測(cè) 方式不僅比傳統(tǒng)方式收集更多的 LED 部分光通 量,也明顯的改善提升了量測(cè)精確度。
在光學(xué)量測(cè)方面,主波長(zhǎng)、峰波長(zhǎng)、色溫等均可 透過(guò)致茂獨(dú)特的光學(xué)設(shè)計(jì)與元件取得精確且穩(wěn)定 快速之?dāng)?shù)據(jù);在機(jī)構(gòu)方面,58173 搭載一個(gè)6吋 的晶片載盤與校正基座,提供使用者一個(gè)完整 的校正與測(cè)試平臺(tái);在電性測(cè)試方面,58173 則 具備完整之電源量測(cè)單元,無(wú)論順向電壓、漏電 流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性,均可于一 次滿足使用者的測(cè)試需求。長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司作為臺(tái)灣Chroma公司湖南區(qū)域的總代理,以下為長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司為您簡(jiǎn)單介紹Chroma Model 58173 LED 全光通量自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的技術(shù)參數(shù)及產(chǎn)品特點(diǎn),如果您想對(duì)Chroma Model 58173 LED 全光通量自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)有更多的了解,歡迎致電長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司,聯(lián)系電話:0731-84284278 84284378。更多產(chǎn)品信息歡迎點(diǎn)擊:easygofood.com。長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司。
Chroma Model 58173 LED 全光通量自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)主要特色:
Chroma Model 58173 LED 全光通量自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)提供全方位電性測(cè)試 (200V/2A) ,可滿足HV及HP測(cè)試
Chroma大面積光偵測(cè)器(量測(cè)角度可達(dá)128度)
半自動(dòng)精密LED wafer/chip點(diǎn)測(cè)設(shè)備
特制Edge Sensor具有點(diǎn)測(cè)針壓穩(wěn)定,無(wú)疲乏與針壓變動(dòng)問(wèn)題
機(jī)械視覺(jué)定位系統(tǒng),縮短人工操作時(shí)間
自動(dòng)抽測(cè)功能
彈性調(diào)整的軟體操作界面
快速芯片掃描系統(tǒng)
自動(dòng)破片掃描演算法
遮光罩設(shè)計(jì),杜絕背景光干擾
即時(shí)顯示點(diǎn)測(cè)資料分布圖
完善的量產(chǎn)測(cè)試統(tǒng)計(jì)報(bào)表及分析工具